Система будет остановлена для регулярного обслуживания. Пожалуйста, сохраните рабочие данные и выйдите из системы.
Browsing Articles by Author "Fenner, D. B."
-
Allen, L. P.; Insepov, Z.; Fenner, D. B.; Santeufemio, C.; Brooks, W.; Jones, K. S.; Yamada, I.
(Journal of applied physics, 2002)
Atomic force microscopy ~AFM! and high-resolution transmission electron microscope ~HRTEM! cross section imaging of individual gas cluster ion impact craters on Si~100! and Si~111! substrate surfaces is examined. The ...